A.支桿法 B.線圈法 C.磁軛法 D.芯棒法
A.不連續(xù)性 B.缺陷 C.漏磁場 D.缺欠
A.試片厚度為15/100mm B.試片上的槽深為15/100mm C.試片厚度100μm,槽深15μm D.槽深100μm,槽寬15μm
A.材料被磁化的難易程度 B.磁場穿透材料的能力 C.檢測最小缺陷的能力 D.以上都是
A.東西方向 B.南北方向 C.西南方向 D.東北方向