A.早期故障階段這一階段的產(chǎn)品故障主要是設計與制造中的缺陷 B.偶然故障階段產(chǎn)品故障率可降至一個較低的水平,且基本處于平穩(wěn)狀態(tài),可以近似認為故障率為常數(shù) C.耗損故障階段產(chǎn)品故障率迅速上升,很快出現(xiàn)產(chǎn)品故障大量增加或報廢的現(xiàn)象 D.耗損故障階段是產(chǎn)品的主要工作期間 E.規(guī)定的允許故障率越高,產(chǎn)品的使用壽命越少
A.I、Ⅱ、Ⅲ水平的判斷力逐級提高 B.I、Ⅱ、Ⅲ水平的判斷力逐級下降 C.對同一檢驗水平,N增加時,n/N也增加 D.對同一檢驗水平,N增加時,n/N減少 E.對同一檢驗水平,N增加時,n/N減少
A.符合性的質(zhì)量 B.過程質(zhì)量 C.生產(chǎn)過程中的能力指數(shù) D.以上都不是
A.過程控制組、原材料檢驗組 B.過程控制組、產(chǎn)品控制組 C.產(chǎn)品控制組、過程控制組 D.產(chǎn)品控制組、半成品檢驗組
A.產(chǎn)品的質(zhì)量特性和重要程度 B.各工序的加工特點和對關鍵特性的影響程度 C.工序的質(zhì)量狀況和加工的規(guī)律性 D.繪制控制圖的人員
A.企業(yè)所有高級管理層 B.企業(yè)高級管理層的部分成員和工人結(jié)合的形式 C.企業(yè)高級管理層的部分成員 D.企業(yè)基層員工參加的,加上部分中層管理人員
A.正態(tài)分布 B.指數(shù)分布 C.均勻分布 D.超幾何分布 E.二項分布
A.過程中存在特殊因素的影響 B.過程將持續(xù)生產(chǎn)出符合規(guī)格的產(chǎn)品 C.過程輸出是可預測的 D.過程的Cp值大于或等于1 E.控制圖上沒有呈現(xiàn)出失控跡象
A.99.261% B.0.7397% C.0.2603% D.99.7397%
A.t分布的概率密度函數(shù)在整個軸上呈偏態(tài)分布 B.t分布的概率密度函數(shù)在正半軸上呈偏態(tài)分布 C.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與標準正態(tài)分布N(0,1)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似 D.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與二項分布b(n,p)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似