問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】什么資料適合用秩和檢驗(yàn)進(jìn)行檢驗(yàn)？簡(jiǎn)述秩和檢驗(yàn)步驟。

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【簡(jiǎn)答題】?jī)山M二分類(lèi)資料的設(shè)計(jì)類(lèi)型有幾類(lèi)？其相應(yīng)的檢驗(yàn)方法是什么？
答案： 兩組二分類(lèi)資料的設(shè)計(jì)類(lèi)型主要有2類(lèi)，即完全隨機(jī)設(shè)計(jì)和配對(duì)設(shè)計(jì)。
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【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述X2檢驗(yàn)適用的數(shù)據(jù)類(lèi)型。
答案： 卡方檢驗(yàn)是應(yīng)用較廣的一種定性資料的假設(shè)檢驗(yàn)方法，常用于檢驗(yàn)兩個(gè)或多個(gè)樣本率（或構(gòu)成比）之間有無(wú)差別。
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