A、盲區(qū)增大 B、無(wú)底波反射 C、多種波型傳播
A、可不考慮探傷面耦合差補(bǔ)償 B、可采用計(jì)算法或AVG曲線法 C、可不使用試塊 D、可不考慮材質(zhì)衰減修正
A、入射縱波軸線與通過(guò)入射點(diǎn)法線的夾角 B、入射橫波軸線與通過(guò)入射點(diǎn)法線的夾角 C、傾斜晶片與探測(cè)面的夾角 D、入射波軸線與界面的夾角
A、動(dòng)態(tài)范圍 B、垂直線性 C、水平線性 D、檢測(cè)靈敏度
A、極大 B、極小 C、零 D、以上都不是